一、定义：
    电阻性电流IR与电容性电流Ic的比值称为介质损耗角的正切值，用tanδ表示。
    电介质的损耗：绝缘介质在交流电压的作用下，介质中流过电流，电介质中的部分电能将转变成热能，这部分能量称为电介质损耗。做介质损失测试是对设备绝缘状况的有效判断。
    介质损耗测试的办法：测试介质的损失角，即介质上所做功产生的热量对介质绝缘的影响。
    介质中形成的电流分两部分：一部分是电容的无功电流，另一部分是引起损耗的有功电流。
    有功电流又分为三部分电流，分别产生三种损耗：
    电导损耗：由通过介质的电导电流引起的损耗；
    极化损耗：极化过程中介质的电荷在交变电场下反复排列，作周期运动时克服摩擦所形成的吸收电流引起的损耗；
    游离损耗：气体中的电晕，液体、固体中的局部放电生成的电流引起的损耗。
    测量CVT接线
    测量CVT中间变压器接线
    测量串极式PT二次绕组接线
    测量串极式PT支架接线
    两种接线的适用范围：
    正接线适用于被试品整体可以与地隔离；反接线适用于被试品不能与地隔离时。
二、测量tanδ时影响测试结果的因素和消除方法：
1、温度和湿度的影响。
2、电场干扰影响及消除方法：
   测试时排除电场干扰的方法主要有屏蔽、选相、倒相法、移相法和采用反干扰平衡干扰等方法。
3、避免外界磁场干扰。
4、试品表面泄露的影响及消除方法：
   利用屏蔽环将表面泄露电流直接回流到试验电源，避免表面泄漏电流进入仪器测量系统引起误差。但是试验中一般不加屏蔽环，加了会改变等值电路，除非天气潮湿需加屏蔽环。
三、试验结果的判断及注意事项：
1、被试品容量较大时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。
2、注意温度影响。
3、试验电压变化对tanδ测试结果的影响。

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